2015 PV 國際標準發展與驗證技術研討會 | ||||||||||||||||||||||||||||||
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新聞日期:2015-11-17 | 新聞來源:TCPV | ||||||||||||||||||||||||||||||
2015 PV國際標準發展與驗證技術研討會 今年11月在南非開普敦舉辦的IEC TC82 WG2會議中,PV模組性能與安全相關最新標準草案持續有變更,為協助國內業者快速掌握與瞭解最新國際太陽光電標準發展趨勢,舉辦「2015 PV國際標準發展與驗證技術研討會」分享,會議議程「2015 IEC PV新標準檢測項目」將特別介紹最新標準討論內容。此外,因應業者所關心之模組產品失效議題,將於研討會中分享「模組封裝材料蝸牛痕敏感性檢測技術介紹」、「PV模組抗颱風能力評估方法」、「工研院PV新驗證技術服務介紹」與「封裝材料測試驗證技術介紹」,誠摯邀請您共襄盛舉! ◆主辦單位:財團法人工業技術研究院量測技術發展中心 ◆時間:104年11月26日(四) 09:50 ~ 12:00 ◆地點:新竹市光復路二段321號17館1F國際會議廳(工研院光復院區) ◆會議議程:
◆費用:免費 ◆報名截止日期:104年11月23日(一)17:00 (名額有限額滿為止,同一公司至多3位學員參加) ◆參加辦法:請填妥報名表於報名截止日期前,以E-mail或傳真報名。 主辦單位將於會前以E-mail或傳真上課通知單,憑上課通知函入場。(對象以廠商優先,主辦單位保留是否接受報名之權利) ◆聯絡人:工研院量測中心創新服務部 許小姐、曾小姐 TEL:(03) 5743854、5743705 FAX:(03) 5743838 E-mail:lilytseng@itri.org.tw |
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